報告時間：2023年4月3日（星期一）14:30-16:30

報告地點：合肥工業(yè)大學(xué)屯溪路校區(qū)昇華樓616會議室

報告人：鞠煥新 博士

工作單位：高德英特(北京)科技有限公司應(yīng)用科學(xué)家

舉辦單位：化學(xué)與化工學(xué)院，先進(jìn)催化與反應(yīng)工程安徽省重點實驗室，可控化學(xué)與材料化工安徽省重點實驗室，先進(jìn)功能材料與器件安徽省重點實驗室

報告簡介：

表面分析技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于新材料和器件的基礎(chǔ)科學(xué)研究以及高科技產(chǎn)業(yè)中，對深入理解其中的基本物理化學(xué)性質(zhì)、表界面特性和電子結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵科學(xué)問題提供了強(qiáng)有力的工具。面對新材料/器件中的基礎(chǔ)研究和技術(shù)創(chuàng)新，先進(jìn)表征分析技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用具有重要的意義。

本報告將針對科學(xué)研究中對表面分析技術(shù)的需求，從空間分辨、深度分辨和原位表征多個維度出發(fā)，介紹多種表面分析技術(shù)（XPS、UPS、LEIPS、AES和TOF-SIMS等）最新發(fā)展以及在材料組分、化學(xué)態(tài)、能級電子結(jié)構(gòu)（價帶和導(dǎo)帶）以及分子結(jié)構(gòu)信息等研究中的應(yīng)用，嘗試為解決關(guān)鍵科學(xué)問題開拓思維和發(fā)掘突破點。 

報告人簡介：

鞠煥鑫博士，PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司應(yīng)用科學(xué)家。分別于2009年和2014年于中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)獲得學(xué)士和博士學(xué)位，畢業(yè)后在國家同步輻射實驗室從事博士后研究。2016年6月-2018年10月，中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)國家同步輻射實驗室特任副研究員。2018年11月，加入PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司，擔(dān)任應(yīng)用與市場總監(jiān)。長期從事軟X射線譜學(xué)方法學(xué)研究以及能源材料/器件界面電子性質(zhì)研究，在學(xué)術(shù)研究方面與用戶合作在Science, Nature，Nature Photonics, Nature Chemistry, Nature Energy, J. Am. Chem. Soc., Angew. Chem. Int. Ed, Adv. Mater, Adv Funct Mater等期刊發(fā)表學(xué)術(shù)論文百余篇；主持/參與多個國家級科研項目。